解决方案
动态老化测试系统 Dynamic HTGB/HTRB
测试目的:对GaN/SiC等器件进行动态压力测试,在温度环
境下对其老化特性(漏电流,阈值电压,动态导通电阻等指
标)进行分析

系统特点:一套系统可以完成静态HTRB/HTGB和动态 HTRB/HTGB测试,

四种测试模式可以自由组合切换

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