解决方案
带功率(DHTOL)老化测试系统
测试目的:基于实际应用环境搭建老化参数测试系统,可对
SiC/GaN器件在动态功率循环条件下的老化特性进行分析测
试。应用级老化过程参数监测,动态导通电阻,VTH等参数
测试
系统特点:DHTOL功率半导体器件老化试验设备,可以使被
测器件处于硬开关状态下进行开关切换,模拟真实使用条件,
测试器件长期工作特性。设备带有能量回馈功能,相比传统
DHTOL设备可以节省大量电能。
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