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器件动态参数分析（双脉冲测试）

• 测试目的：对封装好的器件进行动态参数测试和指标标定，根

据IEC60747-8/9，以及JED 173制定测试方法。

• 系统特点：低杂散电感设计，系统测试带宽>500MHz。测试参

数包括ton/tf/Eon/toff/tr/Eoff/Qrr/trr/Qg/Rg/SCSOA/RBSOA等，

反向恢复特性：反向恢复时间、反向恢复电荷、峰值电流，电

流上升速率等，栅电荷测试Qg，动态导通电阻测试Rds(on)。可

测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率

器件，高压驱动电路******电压2000V，低压驱动电路******电流

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