模块动态特性测试
Edison系列自动化碳化硅功率半导体器件动态特性测试装备是功率半导体模块动态性能参数和寄生电感的全自动化测试与分析设备。
主要用于SiC功率半导体模块等功率半导体器件的双脉冲(Double Pulse Testing),单脉冲(Single Pulse Testing)和短路安全工作区测试,测试方案完全符合IEC60747-9国际标准。
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