器件动态参数分析(双脉冲测试)
• 测试目的:
对封装好的器件进行动态参数测试和指标标定,根据IEC60747-8/9,以及JED 173制定测试方法。
• 系统特点:
低杂散电感设计,系统测试带宽>500MHz。测试参数包括ton/tf/Eon/toff/tr/Eoff/Qrr/trr/Qg/Rg/SCSOA/RBSOA等,
反向恢复特性:反向恢复时间、反向恢复电荷、峰值电流,电流上升速率等,栅电荷测试Qg,动态导通电阻测试Rds(on)。
可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件
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