带功率（DHTOL）老化测试系统

• 测试目的：

基于实际应用环境搭建老化参数测试系统，可对SiC/GaN器件在动态功率循环条件下的老化特性进行分析测试。

应用级老化过程参数监测，动态导通电阻，VTH等参数测试。

• 系统特点：

DHTOL功率半导体器件老化试验设备，使用半桥结构电路搭建测试环境。

最高电压650V，******电流5A，最大工作频率500KHz，占空比可调。

设备可以自动读取测试动态导通电阻。每个机柜最多测试96PCS。