带功率(DHTOL)老化测试系统
• 测试目的:
基于实际应用环境搭建老化参数测试系统,可对SiC/GaN器件在动态功率循环条件下的老化特性进行分析测试。
应用级老化过程参数监测,动态导通电阻,VTH等参数测试。
• 系统特点:
DHTOL功率半导体器件老化试验设备,使用半桥结构电路搭建测试环境。
最高电压650V,******电流5A,最大工作频率500KHz,占空比可调。
设备可以自动读取测试动态导通电阻。每个机柜最多测试96PCS。
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