动态老化测试系统 Dynamic HTGB/HTRB
• 测试目的:
对GaN等器件进行动态压力测试,在温度环境下对其老化特性(漏电流)进行分析。
• 系统特点:
一套系统可以完成静态HTRB/HTGB和动态HTRB/HTGB测试,四种测试模式可以自由组合切换。
反向偏压最高偏压650V,最高频率500KHz。
一个机柜最多测试640PCS,并统计测试漏电流。
网站客服咨询客服
手机:18621752540 电话:021-54332625