动态老化测试系统 Dynamic HTGB/HTRB

• 测试目的：

对GaN等器件进行动态压力测试，在温度环境下对其老化特性（漏电流）进行分析。

• 系统特点：

一套系统可以完成静态HTRB/HTGB和动态HTRB/HTGB测试，四种测试模式可以自由组合切换。

反向偏压最高偏压650V，最高频率500KHz。

一个机柜最多测试640PCS，并统计测试漏电流。