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IM3536
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LCR测试仪IM3536
DC,4Hz~8MHz测量频率,今后的标杆产品
测量频率DC,4Hz~8MHz
测量时间:最快1ms
基本精度:±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量
可内部发生DC偏压测量
从研发到生产线活跃在各种领域中
主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头

主要指标
 测量模式  LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)
 测量参数  Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
 测量量程  100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定)
 显示范围  Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), 
 Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), 
 Δ%: ±(0.000 %~999.999 %)等
 基本精度  Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ)
 测量频率  4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)
 测量信号电平  [V模式, CV模式]的[通常模式]
 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (******50 mA)
 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (******10 mA)
 [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 
 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (******100 mA) 
 [CC模式]的[通常模式] 
 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (******5 V) 
 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (******1 V)
 [CC模式]的[低Z高精度模式] 
 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (******1 V)
 [直流电阻测量]: 1 V固定
 DC偏压  发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)
 输出阻抗  通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
 显示  彩色TFT5.7英寸,触摸屏
 功能  比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、
 面板保存·读取功能、存储功能
 接口  EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出
 电源  AC 100-240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
 体积及重量  330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
 附件  电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1

推荐选件
 SMD治具IM9100  直接连接型,底部有电极SMD用,DC~8MHz,可测量样品尺寸:0402~1005(JIS)
 4端子探头9140-10  DC~200kH,50 Ω,1 m长
 测试治具9261-10  线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm
 测试冶具 9262  DC~8 MHz, 直结型
 SMD冶具 9263  直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
 DC偏压单元 9268-10   直接连接型,40Hz~8MHz,******外加电压DC±40V
 DC偏流单元 9269-10  直接连接型,40Hz~2MHz,******外加电流DC 2A(******外加电压DC±40V)
 4端子探头 9500-10  线长1m,DC~200kHz,50Ω,可测导体直径φ0.3mm~2mm
 SMD测试治具9677  用于侧面有电极的SMDDC~120MHz,测试样品尺寸:3.5mm±0.5mm
 SMD测试治具9699  用于底部有电极的SMDDC~120MHz,测试样品尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下
 前端探针IM9901  用于更换L2001的前端的通用尺寸,L2001标配
 前端探针IM9902  用于更换L2001的前端的小型尺寸
 4端子探头L2000  DC~5MHz,1m长
 镊形探头L2001  线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm
 (IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)


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